存儲器檢測儀基本上是采用功檢測試原理制成，為了實現(xiàn)功能測試，他由生產(chǎn)圖案的專用計算機（微型機或小型機）加上接電口電路定時裝置，I/O裝置及電源燈組成。

測試團存儲器是存儲器測試儀的核心設(shè)備，用一下測圖案和標準信息。目前，產(chǎn)生測試圖案的方法主要有：1.由專門的圖案生產(chǎn)系統(tǒng)產(chǎn)出，存入測試儀存儲器內(nèi)，然后輸給被測存儲器作為測試碼；2.由測試儀隨機產(chǎn)生測試圖案，并自動控制測試數(shù)據(jù)的循環(huán)；3.由測試儀軟件自動產(chǎn)生測試圖案，并控制對存儲器進行測試。

    測試圖案存儲器是有測試臺內(nèi)的專用小型計算機（或維修計算機）構(gòu)成。它產(chǎn)生的測試圖案存入自己的存儲器中，然后由控制循環(huán)使用。接電口路包括將輸入圖案變?yōu)檩斎氩ㄐ蔚摹安ㄐ芜x擇器”，以及為實現(xiàn)輸入、輸出信息電平轉(zhuǎn)換的驅(qū)動器以及其連接電路。定時裝置用以產(chǎn)生各種輸入波形的多路相脈沖，先同脈沖等時序信號：

在選擇或評價一臺存儲器測試儀時主要考慮如下幾項指標：

1.測試儀的速度  測試儀的速度選用133MHz或66MHz或33MHzHAISHI 25MHz?應當根據(jù)所需完成測試的時間來確定。若采用快速測試儀需要12s。若采用較慢速度測試儀則要花費2min。測試儀精度主要依賴于基準測試儀的速度。

2.支持多重平臺 大多數(shù)測試儀不可能僅采用一個測試單元就能同時支持EDODRAM和PC133 SDRAM DLMM測試。應當了解測試儀的兼容性，將現(xiàn)有測試儀升降來滿足各種不同類型存儲器的測試需要。

3.配件/適配件  了解適配器的使用范圍，以確保滿足各種不同類型存儲器的測試需要，如Sun Spare （200）10/20/UItra、PUMCIA存儲器。圖形SGRAM Apple模塊，棧式集成電路存儲器等。

4.錯誤信息顯示    測試儀錯誤信息是如何顯示的，能可以提供詳盡的故障信息。是否可以與計算機通信。拓展測試儀的編程功能。

5.可編程性能  測試儀能否可以編寫SPD程序、設(shè)置程序、測試模式程序。

6.現(xiàn)場更新?lián)Q代  疾患所有小型測試儀均不肯能升級到進行高速的DDR和Rambus存儲器的測試。

存儲器測試儀鞥對靜態(tài)和動態(tài)MOS存儲器進行比較嚴格的功能檢查。當存儲器電路出現(xiàn)故障時，能比較準確的進行故障定位，并顯示如下的故障信息。

1.存儲器的故障定位信息。

2.出錯指令地址。

3.所執(zhí)行的測試程序段名稱或程序段序號

4.被測存儲器的出錯電源地址。

5.正確操作數(shù)和錯誤操作數(shù)

這時，操作人員可以按照輸出的故障信息，更換有關(guān)存儲器組件，調(diào)試輔修機器。對于其他故障，如齊偶校檢錯。動態(tài)MOS存儲器刷新時限錯等，還能輸出故障類型，為診斷、修復存儲器提供有效信息。他可以利用測試系統(tǒng)設(shè)置的六條命令，隨時干預測試過程，靈活地安排測試內(nèi)容和執(zhí)行方式，以診斷和定位故障。